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包装改善ウェビナー第二弾を開催 サプライチェーンを支える包装設計・評価試験 -実践編- をご紹介

  • お知らせ

2023年6月26日 日通NECロジスティクス株式会社

日通NECロジスティクス株式会社(社長:藁谷真司)は、7月26日、包装改善のウェビナー「サプライチェーンを支える包装設計・評価試験 ―実践編―」を開催します。
今年5月に開催しました包装改善ウェビナー「改善のはじめかた」に続き、「実践編」をお届けします。

サプライチェーンを支える包装設計・評価試験

前回のウェビナーでは、包装・梱包の見直しが包装コストだけではなく、製品開発・調達・生産・出荷・顧客納品までのサプライチェーンの各シーンで、物流コスト削減の一助になることをお伝えしました。紹介事例では、包装設計改善ならびに製品設計見直しをご提案してトータル物流コスト(包装資材費・輸送費・保管費)を41%、CO2排出量を64%削減できた事例などをご紹介しました。

こうした包装改善を実際にどのように行うか、今回は「実践編」として、お客様にご相談を頂いてから設計・試験を実施するまでのプロセスを、当社の設計と評価試験のエキスパートが、デモンストレーションを交えて視覚的に分かりやすく説明します。この機会にぜひお申込みください。

■開催概要
 日時:2023年7月26日(水)14:00~14:50(受付開始13:50)
 形式:ウェビナー(Teams)
 参加費:無料(事前登録制)
 対象:~このような方におすすめです~
  設計/開発部門、生産管理/製造部門、物流部門、品質保証部門の方
  包装資材を管理されている方
 主催:日通NECロジスティクス株式会社(WEBサイト https://www.nittsu-necl.co.jp/

■プログラム
 ・前回ウェビナーの振り返り
 ・「精密機器向け包装設計/評価試験」
  第一部:包装設計
  第二部:評価試験
 ・アンケートのお願い

■登壇者
 日通NECロジスティクス株式会社
  包装技術部 阿部 祐司・園山 貴之

【セミナーのお申込みはこちらから】
 https://www.nittsu-necl.co.jp/seminar/20230726

本セミナーに関する問い合わせ先
 日通NECロジスティクス株式会社 営業統括本部 石井/吉松/木田
 TEL:044-733-4876 Email:info@sys.nittsu-necl.co.jp

 

当社は、お客様の更なる利便性向上のため、より一層のサービスの拡充に努めてまいります。

 

以上
日通NECロジスティクス株式会社